10月25日，北京大学微纳电子学研究院冯建华博士应邀来我校做学术交流。物理与电气工程学院院长张杰、科研处副处长詹文法和微电子教研室部分教师参加了交流。10月26日上午作了题为“IC测试和安全检测研究与进展”的精彩学术报告，微电子科学与工程专业的百余名同学聆听了报告，物理与电气工程学院副院长江巨浪主持了报告会。
在报告中，冯建华博士用通俗易懂的语言介绍了集成电路测试的典型方法、硬件木马与信息安全等内容，对国内外发展动态、研究进展及应用前景进行了阐述。报告内容深入浅出、图文并茂，紧扣科技前沿，激发起同学们学习专业知识的强烈愿望。冯建华博士结合自己的成长历程鼓励同学们认准目标、勇于追求，善于在工程实践中锻炼才能，成就未来。与现场师生进行了互动交流。冯建华博士的报告开阔了同学们的专业视野，获益匪浅。
冯建华，男，博士，北京大学副教授，电子学会和计算机学会高级会员，容错专委常委。2002年5月至今在北京大学微纳电子学研究院工作。主要研究领域包括VLSI可测试性设计、芯片安全、可靠性加固与预警等。主持国家自然科学基金和国家预研项目6项，曾获省部级一、二等奖2项，出版著（译）作3部，授权专利4项，发表论文40多篇。主持开发了40多种集成电路验证和测试程序和1套基于ATE的FPGA测试软件。（王鹏）
